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ZEISS O-INSPECT duo

ZEISS O-INSPECT duo

Microscopio e macchina di misura in uno.

ZEISS O-INSPECT duo offre due tecnologie in un unico apparecchio: componenti di grandi dimensioni come PCB, celle a combustibile o batterie possono essere misurati e ispezionati ad alta risoluzione nella loro interezza. La combinazione di metrologia 3D e analisi microscopica aumenta l’efficienza e fa risparmiare spazio nei laboratori di controllo qualità. ZEISS O-INSPECT duo è disponibile nelle misure 8/6/3.

  • 2-in-1: Microscopio e macchina di misura in un unico apparecchio
  • Misurazioni 3D rapide e precise - ottiche e a contatto
  • Ottica ad alta risoluzione con software di analisi aggiuntivo ZEISS ZEN core
O-INSPECT duo
Contatto

Il primo sistema multitecnologico di ZEISS

Come microscopio VMM, ZEISS O-INSPECT duo copre due applicazioni essenziali nel controllo qualità: misura precisa e analisi ad alta risoluzione di componenti grandi o piccoli. Il dispositivo è stato inoltre sviluppato specificamente per le applicazioni che richiedono una combinazione di misurazione dimensionale e analisi, tra cui la segmentazione, l’unione e l’elaborazione di immagini a colori. Invece di dover acquistare sia un VMM che un microscopio, nei laboratori di qualità è necessario un solo dispositivo, con un risparmio di spazio e di costi. Scopri gli ulteriori vantaggi del dispositivo multifunzionale per diversi settori.
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Metrologia
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Misure precise - ottiche e a contatto
METROLOGIA

Misure precise - ottiche e a contatto

Alta precisione per componenti piatti e delicati

ZEISS O-INSPECT duo è una macchina di misura multisensore che colpisce per la sua ottica ad alta risoluzione abbinata al sensore di scansione a contatto ZEISS VAST XXT. Il sensore consente di effettuare misurazioni 3D rapide e precise acquisendo un gran numero di punti di misura con un unico movimento.

I componenti molto piccoli o delicati possono essere misurati senza contatto e con un’eccellente accuratezza, oltre a una significativa riduzione del tempo di misura grazie al campionamento ZEISS VAST (ZVP). Ciò è possibile grazie all’ampio campo visivo con un’elevata risoluzione e un’eccezionale fedeltà dell’immagine, anche nelle aree periferiche.

Analisi e misurazione delle superfici con un’unica macchina
METROLOGIA

Analisi e misurazione delle superfici con un’unica macchina

VMM oggi, microscopio domani

Oltre alla misurazione delle dimensioni, molti componenti richiedono anche l’analisi delle superfici. Dove prima si utilizzavano due dispositivi separati per la misurazione e l’analisi, ZEISS O-INSPECT duo offre ora una soluzione 2-in-1. Grazie al funzionamento intuitivo del dispositivo e al sensore della fotocamera a colori ad alta risoluzione da 5 MP Discovery.V12 scout 160 c con obiettivo zoom 12x, le attività di analisi possono ora essere svolte direttamente sulla macchina di misura. Oltre al consueto utilizzo con ZEISS CALYPSO, la macchina può essere utilizzata anche per attività di microscopia con il software ZEISS ZEN core.

Il nostro microscopio più grande
MICROSCOPIA

Il nostro microscopio più grande

Analisi di parti di grandi dimensioni nel loro insieme

Il taglio dei componenti appartiene al passato: l’analisi ottica di componenti di grandi dimensioni come PCB, celle a combustibile o batterie è ora possibile nella loro interezza. In questo modo si risparmiano risorse e tempo preziosi e si riducono le possibilità di errore causate dallo spostamento di componenti frammentati da un sistema all’altro.

Oltre all’analisi di componenti di grandi dimensioni, ZEISS O-INSPECT duo è adatto anche all’analisi automatizzata di molti componenti di piccole dimensioni. Ciò significa che il microscopio di misura deve essere caricato una sola volta e l’analisi stessa viene eseguita in un’unica fase senza cambiare i singoli campioni.

Fotocamera a colori da 5 MP ad alta risoluzione
MICROSCOPIA

Fotocamera a colori da 5 MP ad alta risoluzione

Rilevamento accurato dei difetti

Mentre le immagini in bianco e nero offrono differenze di contrasto elevate nella metrologia, le immagini a colori offrono un vantaggio nell’analisi microscopica: grazie alla risoluzione delle immagini a colori di 5 megapixel, anche i piccoli difetti vengono rappresentati in modo chiaro e consentono un’analisi e una valutazione precise. ZEISS O-INSPECT duo può essere utilizzato con il software di microscopia ZEISS ZEN core.

Fai clic sull’immagine per scoprire ulteriori dettagli.

Scopri i dettagli
Scopri le caratteristiche di ZEISS O-INSPECT duo
Ampio campo visivo con elevata definizione dell’immagine

Il sensore della telecamera Discovery.V12 scout 160 c ZEISS da 5 MP garantisce un’elevata risoluzione e consente di visualizzare i dettagli e le strutture più piccole grazie allo zoom 12x. L’ampio campo visivo di 16.,1 x 12 mm consente di visualizzare più informazioni per immagine. La fotocamera a colori consente un’analisi microscopica precisa e allo stesso tempo garantisce risultati sempre precisi in metrologia grazie all’alta risoluzione di 5 MP.
Illuminazione

L’anello luminoso è composto da un anello esterno e uno interno con LED bianchi che possono essere controllati individualmente in 16 segmenti. Il dispositivo è inoltre dotato di un’illuminazione coassiale verso l’alto e di una retroilluminazione che consentono di analizzare una varietà di applicazioni e di componenti.
Misurazioni a contatto 3D rapide e precise

ZEISS VAST XXT rende possibile la scansione ad alta precisione catturando un gran numero di punti di misura in un unico movimento, fornendo una precisione da 1,5 µm + L/250 µm.
Grande palcoscenico

La piattaforma di 800 x 600 x 300 mm consente di misurare e analizzare componenti di grandi dimensioni, fino a 100 kg di peso, senza doverli tagliare, distruggere o lavorare prima della misurazione. In alternativa, è possibile analizzare automaticamente anche diversi componenti di piccole dimensioni, grazie all’ampia piattaforma.
2 prodotti software

ZEISS CALYPSO offre opzioni di visualizzazione migliorate per risparmiare tempo. I modelli CAD possono essere visualizzati sovrapposti e le possibili deviazioni (ACTUAL to TARGET) possono essere identificate rapidamente. Grazie a una varietà di opzioni, ZEISS CALYPSO offre anche gli strumenti giusti per esigenze particolari. ZEISS ZEN core è la controparte per la microscopia: Oltre all’imaging classico, la suite software comprende anche strumenti di imaging, segmentazione, analisi e connettività dei dati per la microscopia multimodale in ambienti di laboratorio e di produzione connessi.
Rapporti professionali e attuabili

ZEISS PiWeb reporting offre la documentazione e la visualizzazione dei dati di misura con un solo clic, fornendo utili informazioni sui tuoi componenti e processi.

Contrasti ottimali

Oltre all’illuminazione e alla retroilluminazione coassiali, ZEISS O-INSPECT duo offre anche diverse opzioni di controllo per la luce anulare. Gli anelli LED interni ed esterni possono essere accesi e spenti separatamente o attivati solo in singoli segmenti.
Analisi di membrane, composizioni, guarnizioni, rivestimenti e materiale solido

LED interni ed esterni

L’anello luminoso è composto da LED interni ed esterni di colore bianco. La combinazione di LED interni ed esterni garantisce la massima illuminazione del componente.

LED interni

LED interni

L’anello luminoso interno aumenta i contrasti nella struttura della superficie, portando a miglioramenti come una migliore messa a fuoco, per risultati di misura ancora più precisi.

LED esterni

Telaio della cella

I LED dell’anello luminoso esterno consentono di filtrare la luce ambientale di disturbo. Ciò offre vantaggi quali l’illuminazione di materiali colorati con un elevato contrasto.

Illuminazione del segmento

Illuminazione del segmento

La luce anulare è composta da 16 segmenti che possono essere controllati singolarmente. Questo garantisce un’illuminazione ottimizzata in base alle proprietà del componente da analizzare.

Ergonomico e comodo da usare

ZEISS O-INSPECT duo non deve solo soddisfare i più elevati standard tecnici in termini di qualità, affidabilità e velocità, ma deve anche essere sicuro, ergonomico e facile da utilizzare. L’eccellenza tecnica dei nostri componenti si esprime appieno solo se il prodotto può essere facilmente utilizzato come previsto. Ecco perché abbiamo dotato ZEISS O-INSPECT duo di utili funzioni.
Pallet opzionale

Pallet opzionale

Il pallet opzionale è adatto ai componenti piatti e consente un facile trasporto e un fissaggio sicuro alla macchina.

Coperchio anteriore rimovibile

Coperchio anteriore rimovibile

Grazie al coperchio anteriore rimovibile, ZEISS O-INSPECT duo può essere trasportato comodamente e facilmente nel luogo desiderato e posizionato in modo ottimale tramite un carrello elevatore.

Supporto del pannello di controllo

Supporto del pannello di controllo

Il supporto del pannello di controllo può essere posizionato in modo flessibile su qualsiasi lato della macchina, garantendo un’accessibilità e un’operatività ottimali.

CALYPSO o ZEN core? Entrambi.

ZEISS O-INSPECT duo dispone di due programmi software dedicati con funzioni specifiche per la microscopia e la metrologia. Gli operatori dei rispettivi settori non devono quindi imparare l’utilizzo di un nuovo software.
ZEISS CALYPSO per un controllo qualità ottimizzato

ZEISS CALYPSO per un controllo qualità ottimizzato

In combinazione con ZEISS CALYPSO, le macchine di misura a coordinate ZEISS sfruttano tutto il loro potenziale. Ottimizzare il controllo qualità: il software ti supporta prima, durante e dopo la misurazione. Misura e analizza i tuoi componenti con una serie di funzioni diverse e sfrutta al massimo la tua macchina di misura a coordinate.

    • Creazione automatica di piani di misura da PMI: ZEISS CALYPSO crea automaticamente piani di misura basati sui dati PMI, includendo tutte le caratteristiche rilevanti.
    • Versione dei piani di misura variabili: è possibile risalire a tutti i passi compiuti, poiché tutte le varianti del piano di misura sono registrate come versioni. Non è necessario lavorare con diverse copie perché tutto viene gestito direttamente nel piano di misura.
    • Implementare e ottimizzare le strategie di misurazione: lo strumento di generazione integrato viene utilizzato per applicare strategie di misura specifiche dell’azienda o per ottimizzare i piani di misura sulla base delle raccomandazioni di ZEISS.
    • Potente visualizzazione dei risultati di misurazione: con ZEISS PiWeb reporting, ZEISS CALYPSO offre uno strumento professionale integrato per la progettazione di protocolli per creare visualizzazioni significative dei risultati di misura.
    Microscopia multimodale e connessa con ZEISS ZEN core

    Microscopia multimodale e connessa con ZEISS ZEN core

    ZEN core gestisce molto di più della semplice imaging al microscopio: il software è la suite più completa di strumenti di imaging, segmentazione, analisi e connettività dei dati per la microscopia multimodale nei laboratori di materiali connessi. Offre inoltre funzioni complete come l’inclinazione, l’unione (interferometria) e il rilevamento automatico degli errori.

      • Un’unica interfaccia per tutti i microscopi ZEISS: ZEN core offre un’interfaccia utente unificata per i microscopi e le fotocamere ZEISS. Esegui flussi di lavoro multimodali e collega tutti i dati di imaging e di analisi tra sistemi, laboratori e sedi.
      • Imaging avanzato e analisi automatizzata: ZEN core è il centro di comando per l’impostazione delle funzioni di imaging, segmentazione e analisi automatizzate dei microscopi ottici composti.
      • Soluzioni infrastrutturali per il laboratorio connesso: ZEN core fornisce l’infrastruttura per gli ambienti di laboratorio connessi e unifica tutte le soluzioni di imaging e microscopia ZEISS in un’unica interfaccia utente.

      Dettagli tecnici

      Dimensioni

      8/6/3

      Telecamera

      Discovery.V12 scout 160 c ZEISS, fotocamera a colori da 5 MP, 2646 x 2056 pixel

      Illuminazione

      Luce ad anello a 16 segmenti LED con LED bianchi, uplight coassiale e retroilluminazione

      Distanza di lavoro in mm

      55

      Zoom meccanico

      12 x

      Campo visivo massimo in mm

      16,1 x 12

      Portatesta a contatto compatibile

      ZEISS VAST XXT - TL1/TL3

      Capacità

      100 kg

      Precisione a contatto e ottica

      1D: 1,5 μm + L/250

      2D: 1,8 μm + L/250 μm

      3D: 2,2 μm + L/250 μm

      Software

      ZEISS CALYPSO (per la metrologia)

      ZEISS ZEN core (per microscopia)

      Esempi di applicazione

      Guarda i video applicativi e scopri come vengono misurati e ispezionati con ZEISS O-INSPECT duo diversi componenti, come plastiche medicali, piastre bipolari o circuiti stampati.

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        Misurazione e analisi di componenti elettronici con ZEISS O-INSPECT duo

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        Misurazione e analisi di piastre bipolari con ZEISS O-INSPECT duo

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        Misurazione e analisi di plastiche medicali con ZEISS O-INSPECT duo
      Michael Zeller

      In microscopia, ora abbiamo molto più spazio per osservare i componenti e non abbiamo più bisogno di tagliare i campioni

      Michael Zeller Senior Manager Monitoraggio delle apparecchiature di prova e Metrologia, Zollner Elektronik AG

      Guarda la nostra registrazione demo con le caratteristiche, il software e le best practices

      Prova O-INSPECT duo in azione e guarda il nostro webinar sul prodotto per scoprire le interessanti informazioni dei nostri product manager, le dimostrazioni del software e una dichiarazione di uno dei nostri clienti pilota. In questa sessione scoprirai come la combinazione di microscopia e metrologia in un unico apparecchio possa migliorare i tuoi processi di controllo qualità.

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      • Anteprima immagine di ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

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