Gestire la complessità. Con le soluzioni per microscopia di ZEISS.

I compiti della materialografia cambiano continuamente e le prestazioni richieste aumentano. I componenti diventano sempre più complessi, i rivestimenti sempre più sottili. La miniaturizzazione dell’elettronica sta progredendo. I nuovi materiali compositi vengono utilizzati soprattutto nelle costruzioni leggere. I materiali sostenibili e i componenti fabbricati in modo additivo pongono sfide particolari in termini di caratterizzazione dei materiali. Allo stesso tempo, le tolleranze dei difetti stanno generalmente diminuendo, rendendo necessarie analisi più precise. I laboratori di prova dei materiali devono tenere il passo con questi sviluppi. I tempi sono sempre più stretti. ZEISS offre ai materialografi una profondità unica di microscopi, software e servizi per risolvere efficacemente i test. Inoltre, le soluzioni di microscopia ZEISS rendono il lavoro particolarmente semplice per tutti gli operatori, perché grazie agli algoritmi di deep learning i risultati sono più affidabili e più veloci che mai.

Test più veloci e affidabili grazie al deep learning

ZEISS ZEN core fornisce un’analisi automatizzata delle immagini per l’analisi delle particelle e delle fasi. Le tecniche di deep learning riducono significativamente il carico di lavoro di queste applicazioni e funzionano sempre in modo riproducibile, secondo gli stessi schemi addestrati, indipendentemente dall’operatore e dalla posizione. L’immagine al microscopio di una lega di alluminio viene segmentata automaticamente utilizzando il deep learning. L’algoritmo identifica in modo affidabile i singoli grani. Gli oggetti che si toccano e si sovrappongono possono essere separati (segmentazione dell’istanza).

Segmentazione da ZEISS arivis Cloud

I più recenti modelli di deep learning: Determinazione automatica dei confini dei grani di una ceramica, un acciaio austenitico, un metallo duro e una lega a base di rame. In questo esempio, è stato sufficiente addestrare un modello di deep learning per riconoscere in modo affidabile i confini dei grani di tutti e quattro i materiali.

Correlazione con microscopi ottici, digitali ed elettronici

Kit di strumenti ZEISS ZEN core