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SEM convenzionale di livello base

ZEISS EVO

Il microscopio elettronico tuttofare che unisce la qualità dei dati a un funzionamento intuitivo

Gli strumenti della gamma ZEISS EVO combinano la microscopia elettronica a scansione ad alte prestazioni con un’esperienza intuitiva e facile da usare che si rivolge sia agli esperti che ai nuovi operatori. Grazie all’ampia gamma di opzioni disponibili, ZEISS EVO può essere adattato esattamente alle tue esigenze, indipendentemente dal fatto che operi nel campo delle scienze dei materiali o nel controllo qualità industriale e nell’analisi dei guasti.

  • Una soluzione versatile e multiuso
  • Usabilità ai vertici della categoria
  • Eccellente qualità dell’immagine
  • Automazione del flusso di lavoro e integrità dei dati
ZEISS EVO
Contatto

ZEISS EVO per l’industria

Porta la tua analisi al livello successivo.

ZEISS EVO è il sistema convenzionale di base, con filamento a base di tungsteno o LaB6, per attività di imaging quotidiane e ripetibili, ad esempio per l’analisi di materiali ad alta risoluzione, con flussi di lavoro ampiamente automatizzati e di supporto. Il sistema offre flessibilità per strutture di dimensioni meno impegnative.

Campi di applicazione

  • Analisi e controllo qualità
  • Analisi dei guasti e frattografia
  • Materialografia
  • Analisi della pulizia
  • Analisi morfologica e chimica delle particelle per soddisfare gli standard ISO 16232 e VDA 19 Parte 1 e 2
  • Analisi delle inclusioni non metalliche 

ZEISS EVO: Il microscopio elettronico tuttofare che unisce la qualità dei dati a un funzionamento intuitivo

Porta la tua analisi al livello successivo. ZEISS EVO offre un menu di opzioni di configurazione per soddisfare le tue esigenze di prezzo e prestazioni. La risoluzione desiderata si adatta all’applicazione e si può scegliere tra tre dimensioni di camera.

È inoltre possibile optare per l’alto vuoto, la pressione variabile o la pressione ambiente, in base al tipo di campione. Scegli quindi tra i rivelatori SE, BSE, EDX, VP e C2D in base alla tua applicazione. Con ZEISS EVO, puoi godere dei vantaggi della microscopia elettronica a un prezzo accessibile.

Esempi di applicazione

  • Elettronica

    Detriti e contaminazione sono evidenti sulla superficie di un circuito integrato. Imaging con il rilevatore SE in alto vuoto a 10 kV.

  • Celle a combustibile

    Le celle a combustibile sono tipicamente costituite da membrane di elettrolita polimerico inserite tra elettrodi di platino. Questi componenti critici devono essere sottoposti a basse tensioni per garantire l’ottenimento di informazioni sui dettagli della superficie ad alta risoluzione. Sezione trasversale con una sorgente LaB6 (a sinistra) e una sorgente di tungsteno (a destra) a 3 kV. La sorgente LaB6 fornisce maggiori dettagli superficiali a basse tensioni di accelerazione.

  • Acciaio dolce zincato

    Sezione trasversale di acciaio dolce zincato, ripresa con il rilevatore SE su ZEISS EVO 15. A sinistra: resina di montaggio; al centro: strato di zinco; a destra: acciaio dolce.

  • Analisi del materiale mediante spettroscopia a raggi X (EDX)

    Immagini BSE di superfici corrose rappresentative con mappa EDS: cromo, piombo, rame, nichel, carbonio e ossigeno.

  • Analisi dei guasti sulla superficie di un cuscinetto a sfere

    La superficie del cuscinetto a sfere fotografata con il rilevatore BSE rivela crepe e sfaldamenti della struttura superficiale.

  • Pulizia tecnica

    Particelle di un filtro antiparticolato: analisi della pulizia tecnica e controllo qualità.

Microscopio elettronico a scansione ZEISS EVO - 10 caratteristiche principali in 90 secondi

  • Contenuto di parti terze bloccato

    Il lettore video è bloccato in base alle preferenze di tracciamento impostate. Per cambiare le impostazioni e riprodurre il video, fare clic sul pulsante qui sotto e acconsentire all'uso delle tecnologie di tracciamento "funzionali".
    Scopri come il microscopio elettronico a scansione ZEISS EVO supporta le tue attività di analisi di routine e di analisi dei guasti nei laboratori di qualità e dei materiali, consentendo un imaging intuitivo anche agli operatori meno esperti. Caratteristiche principali di EVO: - Imaging ad alta risoluzione - Funzionamento efficiente - Analisi della composizione chimica - Componenti di grandi dimensioni - Acquisizione di immagini su ampie aree - Campioni non conduttivi - Analisi EDX delle particelle - Misure automatizzate - Segmentazione intelligente delle immagini - Correlazione e condivisione delle immagini

Ulteriori applicazioni per l’industria:

  • Analisi di fasi, particelle e saldature
  • Controllo visivo di componenti elettronici, circuiti integrati, dispositivi MEMS e celle solari
  • Indagine sulla superficie del filo di rame e sulla struttura cristallina
  • Indagine sulla corrosione dei metalli
  • Analisi delle fasi intermetalliche e delle transizioni di fase
  • Imaging e analisi delle microfratture e della resistenza alla frattura
  • Indagini su rivestimenti e materiali compositi
  • Esame dei cordoni di saldatura e delle zone termicamente alterate

Con ZEISS EVO, troviamo l’ago nel pagliaio.

Johannes Bachmann, è l’esperto di analisi dei materiali del Gruppo INNIO. Scarica il volantino e leggi la storia completa.

Individuazione dell’ago nel pagliaio.

Pulizia tecnica: INNIO Group analizza la composizione chimica delle particelle di sporco residuo utilizzando una soluzione ZEISS.

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Risultati accurati e affidabili sono importanti, naturalmente, ma lo è anche ottenerli rapidamente,

afferma Thomas Schaupp, responsabile di laboratorio presso il laboratorio di materiali accreditato SPC. Scopri come ZEISS EVO e la microscopia correlativa di ZEISS aiutano il laboratorio di analisi a ottenere risultati più rapidi del 30%. Scarica il volantino e leggi la storia completa.

Applicazioni di microscopia per il controllo qualità:

Esempi di clienti e brochure dal settore per il settore
  • Anteprima immagine di ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

    ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

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    ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

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