ZEISS Sigma

Dalla pulizia della produzione alla previsione dell’usura dei motori, dalla produzione di acciaio alla gestione ambientale e alla prototipazione rapida, le soluzioni di analisi delle particelle con un microscopio elettronico di ZEISS automatizzano i flussi di lavoro e aumentano la riproducibilità.

Analisi correlate che abbracciano la microscopia ottica ed elettronica in un flusso di lavoro integrato senza soluzione di continuità

• Reportistica automatica integrata LM/EM
• Localizzazione delle origini di contaminazione
• Prendi decisioni informate più rapidamente
• Migliora continuamente la qualità della produzione
• Risultati più rapidi: analisi automatizzate invece di analisi singole e continue, oltre a ispezioni e test delle particelle più rapidi grazie agli algoritmi di apprendimento automatico integrati

ZEISS Intellesis consente l’identificazione delle particelle mediante l’apprendimento automatico. I risultati possono essere consultati tramite il potente software ZEN Connect di ZEISS. ZEISS Intellesis fornisce poi ulteriori informazioni sulla distribuzione delle particelle, basandosi sulla segmentazione delle immagini e sulla classificazione degli oggetti mediante apprendimento automatico.

Per un’immagine SEM (1), l’analisi dell’immagine viene utilizzata per segmentare tutte le particelle (2) e misurare le caratteristiche scelte. Le misure possono essere visualizzate, ad esempio, sotto forma di distribuzione dimensionale. La classificazione degli oggetti di Intellesis viene utilizzata per classificare ulteriormente le particelle segmentate e suddividerle nei loro sottotipi (3). Il conteggio delle particelle per tipo può essere eseguito utilizzando queste informazioni. La classificazione degli oggetti è stata eseguita per particelle standard di nano e microplastica (polistirene (PS, blu chiaro), polietilene (PE, verde), poliammide-nylon 6 (PA, blu scuro) e cloruro di polivinile (PVC, rosso)) su un filtro di policarbonato fotografato con ZEISS Sigma. Questo studio correlativo combina l’alta risoluzione di un microscopio elettronico con le capacità analitiche di un microscopio Raman.